Invention Publication
- Patent Title: CMOS图像传感器中相关双取样期间的偏移校正
- Patent Title (English): Offset correction during correlated double sampling in cmos image sensor
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Application No.: CN200710006930.8Application Date: 2007-01-30
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Publication No.: CN101014081APublication Date: 2007-08-08
- Inventor: 李侊铉
- Applicant: 三星电子株式会社
- Applicant Address: 韩国京畿道水原市灵通区梅滩3洞416
- Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee Address: 韩国京畿道水原市灵通区梅滩3洞416
- Agency: 北京铭硕知识产权代理有限公司
- Agent 郭鸿禧; 韩素云
- Priority: 10-2006-0010870 2006.02.03 KR
- Main IPC: H04N3/15
- IPC: H04N3/15 ; H04N5/335

Abstract:
本发明公开了一种用于图像传感器中相关双取样的装置。比较器接收并比较来自图像传感器的像素的复位信号和感测信号。另外,控制器通过比较器的输出的反馈来调整比较器的被控制的输入端的电压,以补偿比较器的偏移。控制器包括被控制以调整电压的至少一个充电电流源和至少一个放电电流源。
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