Invention Publication
- Patent Title: 半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法
- Patent Title (English): Semiconductor circuit, battery cell monitoring system, computer readable medium storing diagnostic program and diagnostic method
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Application No.: CN201210008427.7Application Date: 2012-01-12
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Publication No.: CN102593886APublication Date: 2012-07-18
- Inventor: 杉村直昭
- Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 拉碧斯半导体株式会社
- Current Assignee: 拉碧斯半导体株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 李浩; 王忠忠
- Priority: 2011-004249 2011.01.12 JP
- Main IPC: H02J7/00
- IPC: H02J7/00 ; H01M10/42 ; G01R31/36

Abstract:
提供一种能够适当地诊断放电部件的功能的半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法。在执行放电电路(51)的平均化切换元件SWn的平均化功能的诊断的情况下,通过初始化动作,变为向比较电路(26)的电容器C1充电信号线Vn的电压与自身阈值电压Vx之差的状态,并且,变为向电容器C2充电信号线Vn-1的电压与自身阈值电压Vx之差的状态。在比较动作中,连接信号线DVn与信号线Lc,向电容器C1、C2输入电压DVn。在不执行平均化处理的情况下,若输出OUT=L电平,则诊断为正常发挥作用,若输出OUT=H电平,则诊断为故障。在执行了平均化处理的情况下,若输出OUT=H电平,则诊断为正常发挥作用,若输出OUT=L电平,则诊断为故障。
Public/Granted literature
- CN102593886B 半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法 Public/Granted day:2015-06-24
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