Invention Grant
CN103308861B 半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法
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Application No.: CN201310084106.XApplication Date: 2013-03-15
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Publication No.: CN103308861BPublication Date: 2017-12-22
- Inventor: 杉村直昭
- Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
- Applicant Address: 日本神奈川县
- Assignee: 拉碧斯半导体株式会社
- Current Assignee: 拉碧斯半导体株式会社
- Current Assignee Address: 日本神奈川县
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 李洋; 舒艳君
- Priority: 2012-060897 2012.03.16 JP
- Main IPC: G01R31/36
- IPC: G01R31/36 ; G01R35/00

Abstract:
本发明的目的在于提供能够适当地进行测量单元的自身诊断的半导体电路、电池监视系统、诊断程序以及诊断方法。将经由各电源线(V)(Vn,Vn-1)、单元选择SW(32)以及电平移位电路(40)从AD转换器(42)输出的输出值(A-B)与直接输入的基准电压(B)从AD转换器(42)输出的输出值(B)相加,在相加值可视为与基准电压(A)相同的情况下,诊断为未产生故障等异常。
Public/Granted literature
- CN103308861A 半导体电路、电池监视系统、诊断程序及诊断方法 Public/Granted day:2013-09-18
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