Invention Grant
- Patent Title: 部分放电传感器测定运算方法以及部分放电传感器测定运算装置
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Application No.: CN201380072744.8Application Date: 2013-02-12
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Publication No.: CN104981707BPublication Date: 2017-09-19
- Inventor: 深泽徹 , 伊藤隆史 , 宫下裕章
- Applicant: 三菱电机株式会社
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 三菱电机株式会社
- Current Assignee: 三菱电机株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 李辉; 黄纶伟
- International Application: PCT/JP2013/053234 2013.02.12
- International Announcement: WO2014/125563 JA 2014.08.21
- Date entered country: 2015-08-11
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00 ; G01R29/10 ; G01R31/12

Abstract:
本发明具备以下的步骤:第1频率特性测定步骤,在测定用天线(2)和有效高度的频率特性为已知的参照天线(3)以分开规定距离的方式设置到平板状的地(1)上的状态下,传递特性测定器(4)测定参照天线(3)与测定用天线(2)之间的传递特性的频率特性;以及第2频率特性测定步骤,在圆筒地(6)的内部设置有被测定用天线(9)的状态下,传递特性测定器(4)测定被测定用天线(9)与测定用天线(2)之间的传递特性的频率特性,圆筒地(6)填设于圆形开口(5)中,圆形开口(5)是在原来设置有参照天线(3)的位置施加的。
Public/Granted literature
- CN104981707A 部分放电传感器评价方法以及部分放电传感器评价装置 Public/Granted day:2015-10-14
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