Invention Grant
CN1049980C 微波器件雷基图自动测绘装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 微波器件雷基图自动测绘装置
- Patent Title (English): Automatic plotting apparatus for Rieke diagram of microwave device
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Application No.: CN94111920.3Application Date: 1994-09-29
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Publication No.: CN1049980CPublication Date: 2000-03-01
- Inventor: 张兆镗 , 胡义正
- Applicant: 电子科技大学
- Applicant Address: 四川省成都市建设北路二段四号
- Assignee: 电子科技大学
- Current Assignee: 电子科技大学
- Current Assignee Address: 四川省成都市建设北路二段四号
- Agency: 电子科技大学专利事务所
- Agent 张扬
- Main IPC: G01R27/02
- IPC: G01R27/02
Abstract:
本发明由驻波及相位检测器，步进电机及其驱动的微波失配器，定向耦合器，大功率匹配负载，可变衰减器，功率检波器，微波混频器及本地振荡器，与等值线相应的功率门并联电路组及频率门并联电路组，放大器，微机系统，绘图仪组成对微波器件进行雷基图自动测绘的装置。本发明仅在阻抗的自动扫描过程中与等值线相交时，采集数据，数据处理简单，实现了雷基图快速测绘(10分钟内)，能为微波器件的生产厂及使用单位使用，提高效益。
Public/Granted literature
- CN1105454A 微波器件雷基图自动测绘装置 Public/Granted day:1995-07-19
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