一种可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统
Abstract:
本发明公开了一种可测量侧面或内部并可自动上下料的测量系统,包括:控制系统;工作台;第一导轨组件,该第一导轨组件包括固接于工作台上的左支座与右支座、第一导轨;测量组件,其可沿第一导轨往复滑移;设于所述工作台之上的自动上下料组件;以及至少一个载具组件,其中,所述自动上下料组件设有吸料组件,所述载具组件设有用于偏转待测物侧面或内部结构光线的光偏转器,所述测量组件、自动上下料组件、以及载具组件与所述控制系统电连接。本发明通过减少人工辅助操作的步骤来提高自动化程度,提高对待测物待测物侧面及内部结构的测量精度,并且提高测量成功率及测量效率的有益效果。
Public/Granted literature
Patent Agency Ranking
0/0