Invention Grant
- Patent Title: 一种LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量评估方法
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Application No.: CN201610320928.7Application Date: 2016-05-16
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Publication No.: CN106018448BPublication Date: 2019-01-08
- Inventor: 孙永阳 , 王占洲 , 郝忠彬 , 章晓峰 , 洪群峰 , 韩相华
- Applicant: 横店集团东磁股份有限公司
- Applicant Address: 浙江省金华市东阳市横店工业区
- Assignee: 横店集团东磁股份有限公司
- Current Assignee: 横店集团东磁股份有限公司
- Current Assignee Address: 浙江省金华市东阳市横店工业区
- Agency: 杭州杭诚专利事务所有限公司
- Agent 尉伟敏; 郑新军
- Main IPC: G01N23/207
- IPC: G01N23/207 ; G01N23/2251

Abstract:
本发明涉及基磁制冷材料检测技术领域,公开了一种LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量评估方法,包括以下步骤:对若干杂相含量在3%‑12%的LaFeSi基磁制冷材料样品进行XRD检测,筛选出杂相含量为3%、6%、9%和12%的样品,获取并制造质量为X1、X2、X3、X4的标准永磁体检测块,制定杂相含量评估表,取待检测的LaFeSi基磁制冷材料固定在升降杆上,依次与质量分别为X1、X2、X3、X4的四块标准永磁体检测块接触,根据永磁体检测块是否被LaFeSi基磁制冷吸引来评估杂相含量。本发明具有能快速、高效、直观的评估LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量的有益效果。
Public/Granted literature
- CN106018448A 一种LaFeSi基磁制冷材料中杂相含量评估方法 Public/Granted day:2016-10-12
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