Invention Grant
- Patent Title: 附带控制器输出约束的PI控制回路性能评估方法
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Application No.: CN201610669833.6Application Date: 2016-08-15
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Publication No.: CN106200619BPublication Date: 2018-11-20
- Inventor: 谢磊 , 陈明 , 吴杭天 , 张志铭 , 苏宏业
- Applicant: 浙江大学
- Applicant Address: 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- Assignee: 浙江大学
- Current Assignee: 浙江大学
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- Agency: 杭州天勤知识产权代理有限公司
- Agent 胡红娟
- Main IPC: G05B23/02
- IPC: G05B23/02

Abstract:
本发明公开了一种附带控制器输出约束的PI控制回路性能评估方法,在控制回路中,引入了控制器输出方差约束,限制被控对象的变化,通过约束控制器的输出方差从而限制被控对象的波动频率与范围,从而保证一方面被控对象不会剧烈的波动,同时回路的输出方差尽可能小,从而降低外在扰动对回路的干扰。本发明通过逐步扩大PI参数的寻优范围,逐步地扩大区域,在限定区域中寻找最小输出方差,这样既能够保证所寻找的PI参数在最小输出方差性能评估中有着良好的应用,同时保证了寻优结果不至于使得控制器输出变化过大,这样可以兼顾两个优化目标,从而为企业高效绿色低能耗生产提供有力的保障。
Public/Granted literature
- CN106200619A 附带控制器输出约束的PI控制回路性能评估方法 Public/Granted day:2016-12-07
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