Invention Grant
CN106205650B 用于减少硬盘驱动器制造测试时间的装置和方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 用于减少硬盘驱动器制造测试时间的装置和方法
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Application No.: CN201510233044.3Application Date: 2015-05-08
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Publication No.: CN106205650BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: J·D·珊萨姆 , C·T·科尔 , R·苏塞 , K·哈帕拉
- Applicant: 希捷科技有限公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 希捷科技有限公司
- Current Assignee: 希捷科技有限公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 上海专利商标事务所有限公司
- Agent 姬利永
- Priority: 14/511,771 2014.10.10 US
- Main IPC: G11B20/10
- IPC: G11B20/10

Abstract:
本申请公开了用于减少硬盘驱动器制造测试时间的装置和方法。该装置包括多个磁性读/写头、系统控制器和切换网络。每一个磁性读/写头包括配置成执行读操作的读传感器元件和配置成执行写操作的写元件。切换网络被耦合在多个磁性读/写头和控制器之间。进一步,切换网络被配置成响应于来自控制器的命令从多个磁性读/写头中的至少两个中基本上同时地选择元件以使得基本上同时地执行所选择的元件的操作以建立磁盘驱动器的制造参数。
Public/Granted literature
- CN106205650A 用于减少硬盘驱动器制造测试时间的装置和方法 Public/Granted day:2016-12-07
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