Invention Publication
- Patent Title: 一种基于连续对数扫频的谐波失真测量方法及系统
- Patent Title (English): Harmonic distortion measurement method and system based on continuous logarithmic swept response
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Application No.: CN201610685614.7Application Date: 2016-08-18
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Publication No.: CN106331951APublication Date: 2017-01-11
- Inventor: 沐永生
- Applicant: 苏州上声电子有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市相城区元和科技园中创路333号
- Assignee: 苏州上声电子有限公司
- Current Assignee: 苏州上声电子股份有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市相城区元和科技园中创路333号
- Agency: 苏州创元专利商标事务所有限公司
- Agent 孙仿卫; 李萍
- Main IPC: H04R3/00
- IPC: H04R3/00 ; H04R29/00

Abstract:
本发明公开了一种基于连续对数扫频的谐波失真测量方法及系统,具有准确性较好的优点。一种基于连续对数扫频的谐波失真测量方法,包括如下步骤:一种基于连续对数扫频的谐波失真测量方法,其特征在于,依次包括如下步骤:S1、设置扫频信号参数,生成扫频信号及所述扫频信号的逆信号;S2、以所述扫频信号激励被测系统,同步采集所述被测系统的输出信号;S3、对所述输出信号和所述逆信号进行解卷积得到一个脉冲序列;S4、设置延时窗函数,从所述脉冲序列中截取各阶谐波引起的脉冲响应;S5、时域求解所述各阶谐波的脉冲响应;S6、变换到频域计算谐波的幅频响应,根据幅频响应得到总谐波失真和/或各阶谐波失真。
Public/Granted literature
- CN106331951B 一种基于连续对数扫频的谐波失真测量方法及系统 Public/Granted day:2019-10-11
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