Invention Publication
- Patent Title: 检测待测目标物的检测装置与方法
- Patent Title (English): INSPECTING DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING INSPECTION TARGET
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Application No.: CN201510644625.6Application Date: 2015-10-08
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Publication No.: CN106353317APublication Date: 2017-01-25
- Inventor: 王湧锋 , 温光溥
- Applicant: 德律科技股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾台北市士林区德行西路45号7楼
- Assignee: 德律科技股份有限公司
- Current Assignee: 德律科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾台北市士林区德行西路45号7楼
- Agency: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司
- Agent 王正茂; 丛芳
- Priority: 14/797,188 2015.07.13 US
- Main IPC: G01N21/84
- IPC: G01N21/84

Abstract:
本发明公开了一种检测待测目标物的检测装置与方法,该检测装置包含:单色影像撷取模块、多个照明模块及控制模块。单色影像撷取模块设置于待测目标物上方,以将光轴对准于待测目标物。多个照明模块各包含具不同的多个颜色的多个发光元件。控制模块控制照明模块依不同的颜色以及不同的照明角度的顺序产生多条照明光线,以进一步控制单色影像撷取模块依序撷取多个单色影像,单色影像各对应于照明光线其中之一的照明。其中控制模块根据单色影像对待测目标物进行检测。借此,本发明的检测待测目标物的检测装置与方法,避免彩色影像在颜色辨识度上的困难度及颜色对不同物质的反射率变化造成的误差,大幅改善检测精确度。
Public/Granted literature
- CN106353317B 检测待测目标物的检测装置与方法 Public/Granted day:2019-10-11
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