Invention Grant
- Patent Title: 一种高精度AD采样电路及测量方法
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Application No.: CN201610655809.7Application Date: 2016-08-11
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Publication No.: CN106452441BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 李露露 , 刘毅 , 王俊宇 , 郑立荣 , 安晋静
- Applicant: 复旦大学无锡研究院
- Applicant Address: 江苏省无锡市滨湖区高浪东路999号A2楼
- Assignee: 复旦大学无锡研究院
- Current Assignee: 复旦大学无锡研究院
- Current Assignee Address: 江苏省无锡市滨湖区高浪东路999号A2楼
- Main IPC: H03M1/12
- IPC: H03M1/12

Abstract:
一种高精度AD采样电路及测量方法,包含Spullup开关,Scurrent开关,Sgain开关,信号输入端子对UI‑COM,Rpullup电阻,Rpoly电阻,Rcurrent电阻,Rshunt电阻,Rseries电阻和ADC采样器;所述信号输入端UI与Spullup开关、Rpullup电阻依次电连接;所述Rpullup电阻外加Vpullup电压;所述信号输入端UI与Rpoly电阻、Rseries电阻和ADC采样器依次电连接;所述Rpoly电阻与Scurrent开关、Rcurrent电阻和信号输入端COM依次电连接;所述Rseries电阻与Sgain开关、Rshunt电阻和信号输入端COM依次电连接;所述Rseries电阻与极性电容和地依次电连接;所述信号输入端COM与ADC采样器电连接。本发明通过电子开关Spullup、Sgain将电路变化为多种组态,根据电路原理列出包含各个变量关系,从而得出实际电路特征参数。
Public/Granted literature
- CN106452441A 一种高精度AD采样电路及测量方法 Public/Granted day:2017-02-22
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