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Invention Grant
CN106456040B “高分辨率”电阻抗成像的设备和方法 有权 转让

“高分辨率”电阻抗成像的设备和方法
Abstract:
一种高分辨率电阻抗成像的方法，包括：在第一位置使用由电极框架(30)限定的采样点(22)的阵列，其中，电极框架限定了采样点的相对位移；以及在不同的第二位置使用由相同的电极框架限定的采样点的不同的阵列。
Abstract(English):

A method of high resolution electrical impedance imaging including using an array of sampling points defined by an electrode frame at a first position, wherein the electrode frame defines a relative displacement of sampling points; and using a different array of sampling points defined by the same electrode frame at a different, second position.

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