Invention Grant
- Patent Title: 测量装置
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Application No.: CN201580029220.XApplication Date: 2015-05-12
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Publication No.: CN106461371BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 中野良平
- Applicant: 株式会社普利司通
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社普利司通
- Current Assignee: 株式会社普利司通
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京银龙知识产权代理有限公司
- Agent 丁文蕴; 严星铁
- Priority: 2014-118019 2014.06.06 JP
- International Application: PCT/JP2015/002399 2015.05.12
- International Announcement: WO2015/186299 JA 2015.12.10
- Date entered country: 2016-12-01
- Main IPC: G01B11/00
- IPC: G01B11/00

Abstract:
一种测量装置,其设置有:测量标记(2),其设置在转鼓(3)的外周表面上,转鼓具有设置在外周表面上的带状部件(10);至少一个测量传感器(4),其获取至少一些测量标记(2)的位置信息;以及计算装置,其基于测量标记(2)上的测量信息来计算测量标记(2)的位置,所述测量信息已经通过测量传感器(4)获取,并且其计算提前测得的测量标记(2)的实际位置与测量标记(2)的计算位置之间的偏差。
Public/Granted literature
- CN106461371A 测量装置 Public/Granted day:2017-02-22
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