Invention Grant
CN106687045B 数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法
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Application No.: CN201580044700.3Application Date: 2015-10-07
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Publication No.: CN106687045BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 后藤大雅 , 高桥悠 , 广川浩一
- Applicant: 株式会社日立制作所
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社日立制作所
- Current Assignee: 株式会社日立制作所
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京银龙知识产权代理有限公司
- Agent 范胜杰; 王立杰
- Priority: 2014-215112 2014.10.22 JP
- International Application: PCT/JP2015/078466 2015.10.07
- International Announcement: WO2016/063725 JA 2016.04.28
- Date entered country: 2017-02-20
- Main IPC: A61B6/03
- IPC: A61B6/03

Abstract:
本发明提供即使在大部分测量视角下被检体凸出到参考通道的情况下也能进行高精度参考校正的数据处理装置等,为此,X射线CT装置的图像处理装置(数据处理装置)计算出空气校准时测量得到的参考值的每单位管电流的值、即单位空气校准参考值,根据正式拍摄时的输出管电流值和单位空气校准参考值求出符合正式拍摄的X射线条件的参考值(推定参考值),另外经校正使得正式拍摄时测量参考值以推定参考值进行标准化得到的标准化参考数据收敛于允许误差范围内,从而去除凸出的影响。
Public/Granted literature
- CN106687045A 数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法 Public/Granted day:2017-05-17
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