Invention Grant
- Patent Title: 代码缺陷的预测方法及装置
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Application No.: CN201611030122.0Application Date: 2016-11-15
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Publication No.: CN106708729BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 谢新强 , 唐亮
- Applicant: 东软集团股份有限公司
- Applicant Address: 辽宁省沈阳市浑南新区新秀街2号
- Assignee: 东软集团股份有限公司
- Current Assignee: 东软集团股份有限公司
- Current Assignee Address: 辽宁省沈阳市浑南新区新秀街2号
- Agency: 北京鼎佳达知识产权代理事务所
- Agent 刘喆; 刘铁生
- Main IPC: G06F11/36
- IPC: G06F11/36

Abstract:
本发明公开了一种代码缺陷的预测方法及装置,涉及代码缺陷检测技术领域,本发明减少了代码缺陷测试所消耗的人员工作量。本发明的技术方案为:获取目标代码的属性信息;根据代码缺陷库中的属性信息和目标代码的属性信息确定所述目标代码对应的代码缺陷信息,所述代码缺陷库中存储属性信息与代码缺陷信息的对应关系;输出与所述目标代码对应的代码缺陷信息,所述代码缺陷信息用于预测所述目标代码存在的缺陷。本发明主要用于预测目标代码中存在的缺陷。
Public/Granted literature
- CN106708729A 代码缺陷的预测方法及装置 Public/Granted day:2017-05-24
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