Invention Grant
- Patent Title: 一种用于分离脱落电连接器插座的密封测试装置
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Application No.: CN201611241236.XApplication Date: 2016-12-29
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Publication No.: CN106768668BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 胡丹娜 , 刘伟成 , 陈宇斌 , 樊宏祥 , 宿圣海 , 周升俊
- Applicant: 杭州航天电子技术有限公司
- Applicant Address: 浙江省杭州市滨江区春波路1450号
- Assignee: 杭州航天电子技术有限公司
- Current Assignee: 杭州航天电子技术有限公司
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市滨江区春波路1450号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 范晓毅
- Main IPC: G01M3/06
- IPC: G01M3/06

Abstract:
本发明公开了一种用于分离脱落电连接器插座的密封测试装置,包括:充气装置、底座、盖板、容器、密封垫和连接机构;其中,三层密封座设置于所述底座内;所述盖板通过所述密封垫与所述底座相连接;所述底座的侧壁开设有进气口,所述充气装置通过第一管道与所述进气口相连接;所述盖板的侧壁开设有出气口,所述容器通过第二管道与所述出气口相连接;所述连接机构位于盖板内,所述连接机构与三层密封座相连接。本发明解决了现有技术中密封插座正背面两层灌胶完成后无法检测其中一层的密封性能。
Public/Granted literature
- CN106768668A 一种用于分离脱落电连接器插座的密封测试装置 Public/Granted day:2017-05-31
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