Invention Grant
- Patent Title: 一种磁场测量装置姿态摆动干扰去除方法
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Application No.: CN201710156329.0Application Date: 2017-03-16
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Publication No.: CN106842080BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 牛红攀 , 胡绍全 , 王小龙 , 刘信恩 , 吴付岗 , 孙乐
- Applicant: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Applicant Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Assignee: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Current Assignee: 中国工程物理研究院总体工程研究所
- Current Assignee Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Agency: 北京天奇智新知识产权代理有限公司
- Agent 杨春
- Main IPC: G01R33/10
- IPC: G01R33/10 ; G01R33/00 ; G06F17/50

Abstract:
本发明公开了一种磁场测量装置姿态摆动干扰去除方法,包括以下步骤:设定磁场测量装置的参考坐标系和全局坐标系,并测量参考坐标系与全局坐标系之间的夹角即姿态角度;根据以下公式计算在全局坐标系中的磁矢量r1:r1=[R]‑1r2,r2表示在参考坐标系中的磁矢量,[R]‑1是[R]的逆矩阵,[R]是旋转矩阵。本发明通过将含姿态摆动干扰的参考坐标系中的磁矢量转换为无姿态摆动干扰的全局坐标系中的磁矢量,从而从本质上去除了磁场测量装置姿态摆动引起的干扰。
Public/Granted literature
- CN106842080A 一种磁场测量装置姿态摆动干扰去除方法 Public/Granted day:2017-06-13
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