Invention Publication
- Patent Title: 一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法
- Patent Title (English): Systematic design method of embedded type module cross test
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Application No.: CN201611171234.8Application Date: 2016-12-17
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Publication No.: CN106844193APublication Date: 2017-06-13
- Inventor: 张倪旺 , 严明 , 余春霞
- Applicant: 福建瑞之付微电子有限公司
- Applicant Address: 福建省福州市鼓楼区软件大道89号福州软件园B区2号楼二层研发楼
- Assignee: 福建瑞之付微电子有限公司
- Current Assignee: 福建瑞之付微电子有限公司
- Current Assignee Address: 福建省福州市鼓楼区软件大道89号福州软件园B区2号楼二层研发楼
- Agency: 福州元创专利商标代理有限公司
- Agent 蔡学俊; 丘鸿超
- Main IPC: G06F11/36
- IPC: G06F11/36

Abstract:
本发明涉及一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法。该方法:首先,对嵌入式系统中所有模块进行分类或归类,建立完整的模块间交叉关联矩阵;其次,按照第一步交叉测试用例缩减策略,分析并确定参与两两交叉的模块类别及具体模块,得到原始的交叉测试用例集;而后,按照第二步交叉测试用例缩减策略,对原始的交叉测试用例集进行分析和进一步缩减,得到初步的交叉测试用例集;最后,对初步的交叉测试用例集的各交叉测试用例的交叉深度和强度进行分析与选择,得到最终的交叉测试用例集。本发明良好的系统化的测试设计保障了下一阶段具体测试实现的质量,也减少了最终测试实施的工作量,使得交叉测试的“又快又好”优势得以体现。
Public/Granted literature
- CN106844193B 一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法 Public/Granted day:2019-10-11
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