Invention Grant
- Patent Title: 一种平面内多晶织构的测量方法
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Application No.: CN201710170444.3Application Date: 2017-03-21
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Publication No.: CN106908461BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 熊旭明 , 江向峰 , 张永水 , 王延凯 , 桑洪波 , 贺昱旻
- Applicant: 苏州新材料研究所有限公司 , 北京布莱格科技有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物园C18栋
- Assignee: 苏州新材料研究所有限公司,北京布莱格科技有限公司
- Current Assignee: 苏州新材料研究所有限公司,北京布莱格科技有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物园C18栋
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 朱振德; 张荣
- Main IPC: G01N23/207
- IPC: G01N23/207

Abstract:
本发明公开了一种平面内多晶织构的测量方法。包括:采用X射线管发出X射线,所述X射线为线焦斑;使用Sollar狭缝限制X射线在线焦斑长度方向的发散,并使用发散狭缝控制所述X射线在垂直于线焦斑方向的发散;使呈线焦斑的X射线照射到待测产品上,并使用X射线探测器接收待测产品衍射的X射线;控制所述X射线管与所述X射线探测器对待测样品进行Phi扫描,并由X射线探测器记录接收到的待测产品衍射的X射线的强度,根据待测产品衍射的X射线的强度的变化得出待测产品的平面内多晶织构。本发明的测量速度相比于现有技术有了很大的提高,测量值的波动范围也大幅度减少。并保持了测量的精度。同时,本发明具有低成本优势。
Public/Granted literature
- CN106908461A 一种平面内多晶织构的测量方法 Public/Granted day:2017-06-30
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