Invention Publication
- Patent Title: 一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法及装置
- Patent Title (English): Symmetrical electric field-based particle zeta potential measuring method and device
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Application No.: CN201710140503.2Application Date: 2017-03-10
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Publication No.: CN106940301APublication Date: 2017-07-11
- Inventor: 邱健 , 韩鹏 , 骆开庆 , 彭力
- Applicant: 华南师范大学
- Applicant Address: 广东省广州市天河区石牌华南师范大学
- Assignee: 华南师范大学
- Current Assignee: 清远华奥光电仪器有限公司
- Current Assignee Address: 广东省广州市天河区石牌华南师范大学
- Agency: 广州科粤专利商标代理有限公司
- Agent 黄培智
- Main IPC: G01N21/51
- IPC: G01N21/51 ; G01N21/27 ; G01N27/447

Abstract:
一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量装置,其包括电泳电压源、U型透明管的样品池、光学相干模块、光电信号处理模块、数据处理器;电泳电压源的正极设在U型透明管的左端内,电泳电压源的负极设在U型透明管的右端内;光电信号处理模块包括光电探测器和自相关运算模块,光电探测器和自相关运算模块的数量都为两个,第一光电探测器的输出端与第一自相关运算模块的输入端电连接,第二光电探测器的输出端与第二自相关运算模块的输入端电连接;数据处理器的输入端分别与第一自相关运算模块、第二自相关运算模块的输出端电连接;光学相干模块包括激光光源和光学频移器。本发明能够剔除杂散光与电噪声引入的频谱成分,提高Zeta电位测量的准确性与稳定性。
Public/Granted literature
- CN106940301B 一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法及装置 Public/Granted day:2019-10-11
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IPC分类: