Invention Publication
- Patent Title: 半导体结构及包含所述半导体结构的传声器的制备方法
- Patent Title (English): Semiconductor structure and preparation method of microphone comprising semiconductor structure
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Application No.: CN201610078036.0Application Date: 2016-02-03
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Publication No.: CN107040860APublication Date: 2017-08-11
- Inventor: 吴健健 , 朱瑜杰 , 郑世远
- Applicant: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 , 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江路18号;
- Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Current Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江路18号;
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 余明伟
- Main IPC: H04R31/00
- IPC: H04R31/00

Abstract:
本发明提供一种半导体结构及包含所述半导体结构的传声器的制备方法,包括:提供半导体衬底,在半导体衬底上沉积第一二氧化硅层;在第一二氧化硅层表面形成Ge填充层,并在Ge填充层及第一二氧化硅层内形成下电极;在Ge填充层表面沉积第二二氧化硅层及第三二氧化硅层;在第三二氧化硅层表面形成上电极;在上电极表面形成具有声孔及阻挡结构的氮化硅层;背面刻蚀贯穿半导体衬底的通孔;去除第一二氧化硅层、Ge填充层、第二二氧化硅层及第三二氧化硅层。位于下电极上方的Ge填充层作为二氧化硅层的刻蚀阻挡层,避免了二氧化硅层的刻蚀对下电极造成损坏;Ge作为填充层,更容易去除,不会在下电极表面有残留,提高了传声器的电容稳定性及灵敏度。
Public/Granted literature
- CN107040860B 半导体结构及包含所述半导体结构的传声器的制备方法 Public/Granted day:2019-10-11
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