Invention Grant
- Patent Title: 阻性传感器阵列测量装置及方法
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Application No.: CN201710048637.1Application Date: 2017-01-20
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Publication No.: CN107063312BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 吴剑锋 , 何赏赏 , 汪峰 , 王琦 , 李建清
- Applicant: 东南大学
- Applicant Address: 江苏省南京市四牌楼2号
- Assignee: 东南大学
- Current Assignee: 东南大学
- Current Assignee Address: 江苏省南京市四牌楼2号
- Agency: 南京经纬专利商标代理有限公司
- Agent 楼高潮
- Main IPC: G01D5/16
- IPC: G01D5/16

Abstract:
本发明公开了一种阻性传感器阵列测量装置,所述阻性传感器阵列为共用行线和列线的阻性传感器阵列;该测量装置包括:标准电阻行,其包括一行N个标准电阻,被增设于阻性传感器阵列中,从而得到一个新的共用行线和列线的(M+1)×N电阻阵列;(M+1)个运算放大器,与电阻阵列的(M+1)条行线一一对应,各运算放大器的反相输入端、输出端分别通过一根连接线与其所对应行线连接;控制器,其具有至少(M+1)个IO端口以及至少N个ADC采样端口,其中的(M+1)个IO端口与(M+1)个运算放大器的同相输入端一一对应连接,其中的N个ADC采样端口与新的电阻阵列的N条列线一一对应连接。本发明公开了一种阻性传感器阵列测量方法。本发明具有更高测量精度和更大测量量程。
Public/Granted literature
- CN107063312A 阻性传感器阵列测量装置及方法 Public/Granted day:2017-08-18
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