Invention Grant
CN107090404B 一种基因测序芯片及基因测序方法、基因测序装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种基因测序芯片及基因测序方法、基因测序装置
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Application No.: CN201710265434.8Application Date: 2017-04-21
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Publication No.: CN107090404BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 庞凤春 , 蔡佩芝 , 耿越
- Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
- Applicant Address: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- Assignee: 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方光电科技有限公司
- Current Assignee: 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方光电科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- Agency: 北京中博世达专利商标代理有限公司
- Agent 申健
- Main IPC: C12M1/34
- IPC: C12M1/34 ; C12Q1/6869

Abstract:
本发明提供了一种基因测序芯片及基因测序方法、基因测序装置,涉及基因测序领域,采用离子半导体测序技术原理,结构更为简单,制作难度较小,大大降低了测序时间和成本。该基因测序芯片包括,显示面板,包括多个显示单元,所述显示单元设置有晶体管和电极,所述电极与所述晶体管的漏极相连;设置在所述显示面板上的开口限定层,所述开口限定层上设置有与所述显示单元一一对应的开口;至少有部分区域设置在所述开口内的离子敏感膜,所述离子敏感膜与所述晶体管的栅极相连。用于基因测序芯片及包括该基因测序芯片的基因测序装置制备。
Public/Granted literature
- CN107090404A 一种基因测序芯片及基因测序方法、基因测序装置 Public/Granted day:2017-08-25
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