Invention Publication
- Patent Title: ATE电源测试通道扩展结构及其测试应用方法
- Patent Title (English): ATE (auto-test equipment) power test channel extension structure and test application method thereof
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Application No.: CN201710519250.XApplication Date: 2017-06-30
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Publication No.: CN107102273APublication Date: 2017-08-29
- Inventor: 曾志敏
- Applicant: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Agency: 上海浦一知识产权代理有限公司
- Agent 郭四华
- Main IPC: G01R31/40
- IPC: G01R31/40 ; H02H3/08

Abstract:
本发明公开了一种ATE电源测试通道扩展结构,电源扩展支路包括的过流保护电路在测试过程中用于检测对应的电源扩展支路的电流大小,在电流扩展支路的电流正常时保持电源扩展支路和被测器件的连接;在电流扩展支路过流时断开电源扩展支路和被测器件的连接,防止过流的电流扩展支路将对应的电源测试通道的输出电压拉低从而影响连接同一电源测试通道的其它电源扩展支路的测试。过流保护电路还在上电启动过程中用于设置各电源扩展支路的通断状态。本发明还公开了一种ATE电源测试通道扩展结构的测试应用方法。本发明具有过流隔离功能,能防止多支路共享电源测试通道时由过流引起的测试过杀,还能节省支路选择开关。
Public/Granted literature
- CN107102273B ATE电源测试通道扩展结构及其测试应用方法 Public/Granted day:2019-08-13
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