Invention Grant
- Patent Title: 一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准方法
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Application No.: CN201710343651.4Application Date: 2017-05-16
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Publication No.: CN107144345BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 张鹏 , 董杰 , 韩顺利 , 龚侃 , 吴寅初
- Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- Applicant Address: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- Assignee: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- Current Assignee: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- Current Assignee Address: 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号
- Agency: 济南圣达知识产权代理有限公司
- Agent 张勇
- Main IPC: G01J1/42
- IPC: G01J1/42

Abstract:
本发明涉及,一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置及方法,该方法基于所述装置,该方法包括:(1)测试太赫兹激光功率计的输入功率与示值电压之间的线性关系;(2)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系,设置一组太赫兹源的工作波长,测试太赫兹激光功率计在不同波长下的校正因子;(3)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系,设置一组环境温度,测试太赫兹激光功率计在不同温度下的校正因子;计算得到温度校正因子β与环境温度T的线性关系;(4)校准太赫兹激光功率计在测试波长和环境温度时的测试功率。本发明提高了太赫兹激光功率计在不同环境温度的测试准确度,降低太赫兹激光功率计的波长校准误差,提高校准效率。
Public/Granted literature
- CN107144345A 一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置与方法 Public/Granted day:2017-09-08
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