Invention Grant
- Patent Title: 一种微波电场强度测量方法和测量装置
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Application No.: CN201710400038.1Application Date: 2017-05-31
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Publication No.: CN107179450BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 廖开宇 , 何鹏 , 张新定 , 黄巍 , 杜炎雄 , 颜辉
- Applicant: 华南师范大学
- Applicant Address: 广东省广州市天河区中山大道西55号
- Assignee: 华南师范大学
- Current Assignee: 清远市天之衡量子科技有限公司
- Current Assignee Address: 广东省广州市天河区中山大道西55号
- Agency: 广州容大专利代理事务所
- Agent 刘新年
- Main IPC: G01R29/12
- IPC: G01R29/12

Abstract:
本发明公开了一种微波电场强度测量方法及测量装置,所述测量方法包括如下步骤:将第一激光器产生的探测光分为两束相同的探测光,其中一束探测光进入铷泡,另一束探测光进入真空设备;第二激光器产生的耦合光进入铷泡,耦合光和探测光将铷泡中的热原子从基态相干激发到里德堡态,并在原子蒸气室内实现电磁诱导透明;将微波源产生的微波电场施加到热原子上,将另一邻近里德堡态耦合到三能级EIT系统上,形成一个四能级系统;分别探测从铷泡和真空设备出射的两路透射光,通过分析两路透射光的色散关系,确定两路透射光的时间差,即可获得微波电场强度。
Public/Granted literature
- CN107179450A 一种微波电场强度测量方法和测量装置 Public/Granted day:2017-09-19
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