Invention Grant
- Patent Title: 基于FPGA的仪控系统参数整定方法和装置
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Application No.: CN201710195483.9Application Date: 2017-03-29
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Publication No.: CN107219839BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 刘松 , 江国进 , 白涛 , 张春雷 , 傅春霞 , 胡俊 , 王桂兰 , 贾武先
- Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区永丰路5号院5号楼101
- Assignee: 北京广利核系统工程有限公司,中国广核集团有限公司
- Current Assignee: 北京广利核系统工程有限公司,中国广核集团有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区永丰路5号院5号楼101
- Agency: 北京国电智臻知识产权代理事务所
- Agent 孙小敏
- Main IPC: G05B23/02
- IPC: G05B23/02

Abstract:
本发明属于核电站仪控系统的技术领域,尤其涉及一种能够减少对FPGA资源开销的基于FPGA的仪控系统参数整定方法和装置;所述FPGA与上位机相连,所述方法包括:所述FPGA读取与FPGA相连的存储器中参数;如果读取所述存储器中参数成功,则所述FPGA逐个整定在线运行参数;如果所述逐个整定在线运行参数整定成功,则所述上位机根据读取的所述逐个整定在线运行参数,重新整理所述存储器中对应的参数,并重新向所述存储器中写入参数;因此,重新整理所述存储器中对应的参数是通过与所述FPGA相连的上位机完成,能够降低FPGA在参数整定过程中硬件的资源开销。
Public/Granted literature
- CN107219839A 基于FPGA的仪控系统参数整定方法和装置 Public/Granted day:2017-09-29
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