AMOLED外部电学补偿侦测方法
Abstract:
本发明提供一种AMOLED外部电学补偿侦测方法,在显示模式下,先估算出侦测薄膜晶体管的漏极与源极之间的跨压,再将所述侦测薄膜晶体管的漏极与源极之间的跨压的估算值用于计算驱动薄膜晶体管的栅源极电压,能够提高驱动薄膜晶体管栅源极电压的写入精确度;在侦测模式下,先估算出侦测薄膜晶体管的漏极与源极之间的跨压,再将所述侦测薄膜晶体管的漏极与源极之间的跨压的估算值用于计算驱动薄膜晶体管的源极的电压,然后将计算得到的驱动薄膜晶体管的源极的电压用于计算驱动薄膜晶体管的阈值电压与载流子迁移率,能够减小驱动薄膜晶体管的阈值电压与载流子迁移率的计算误差,改善AMOLED外部电学补偿侦测的精确度。
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