Invention Grant
- Patent Title: 探针卡、使用该探针卡的检查装置及检查方法
-
Application No.: CN201710475946.7Application Date: 2017-06-21
-
Publication No.: CN107526018B9Publication Date: 2021-09-03
- Inventor: 齐藤祐贵 , 深见美行 , 清藤英博
- Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- Current Assignee: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京市金杜律师事务所
- Agent 杨宏军; 李文屿
- Priority: 2016-122268 20160621 JP
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28 ; H01L21/66

Abstract:
提供一种被控制为所希望温度而使温度分布均匀化的探针卡、使用该探针卡的检查装置及检查方法。探针卡(1)包括:支承基板(3);包含布线(2)而设于支承基板(3)的主面(8)的布线层(4);配置在布线层(4)的与支承基板(3)侧相反一侧的面(11)并与布线(2)连接的探针(5);多个加热器(6)。在探针卡(1)中,通过俯视下纵横排列的多个加热器区域(10)被假想地分割为加热器区域,各个加热器区域(10)分别配置有多个加热器(6)中的至少一个。使用探针卡(1)构成检查装置,使用该检查装置进行被检查体的检查。
Public/Granted literature
- CN107526018B 探针卡、使用该探针卡的检查装置及检查方法 Public/Granted day:2021-04-13
Information query