Invention Grant
- Patent Title: 一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法
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Application No.: CN201610617865.1Application Date: 2016-07-29
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Publication No.: CN107664648BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 朱佩平 , 张凯 , 袁清习 , 黄万霞 , 朱中柱
- Applicant: 中国科学院高能物理研究所
- Applicant Address: 北京市石景山区玉泉路19号(乙)
- Assignee: 中国科学院高能物理研究所
- Current Assignee: 济南汉江光电科技有限公司
- Current Assignee Address: 250012 山东省济南市历下区泺源大街中银广场二期25F03B
- Agency: 北京志霖恒远知识产权代理事务所
- Agent 陈姗姗
- Main IPC: G01N23/041
- IPC: G01N23/041 ; G01N23/083

Abstract:
本发明公开了一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法,所述X射线微分相位衬度显微镜系统包括:用于产生X射线的光源;以及沿X射线传播方向依次设置的聚光镜、中心光阑、分束光栅、针孔、样品台、物镜、环形分析光栅和成像探测器。本发明的有益效果是:该X射线微分相位衬度显微镜系统,仅在传统的X射线显微镜中增加分束光栅和环形分析光栅,就能实现相位衬度定量成像,具有结构简单、易于推广的优点。另外,可以将X射线光源、聚光镜、分束光栅集成为一个X射线环形栅源元件,则整个X射线微分相位衬度显微镜系统长度可以进一步缩短,不仅可以降低X射线显微镜系统的制造成本,而且光的利用效率也能进一步提高。
Public/Granted literature
- CN107664648A 一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法 Public/Granted day:2018-02-06
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