本发明提供一种晶振下走线及过孔的检测避让方法，基于检测坐标获取每条走线的坐标位置信息，获取每个晶振元件的坐标位置信息以及获取每个过孔的坐标位置信息；获取晶振元件的位置信息；获取与晶振元件引脚连接的走线信息；判断与晶振元件引脚连接的走线信息的电气属性与晶振元件引脚的电气属性是否相同；当所述走线的电气属性与所述晶振元件引脚的电气属性相同时，所述走线位置不避让；当所述走线的电气属性与所述晶振元件引脚的电气属性不相同时，对所述走线进行标示；将走线的电气属性与所述晶振元件引脚的电气属性的判断结果生成走线判断清单。避免人工检查晶振元件下是否存在走线或过孔，提高设计效率。