Invention Publication
- Patent Title: 一种基于半频静电激振的高频体模态谐振器测试方法
- Patent Title (English): High-frequency body modal resonator test method based on half-frequency electrostatic excitation
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Application No.: CN201710827926.1Application Date: 2017-09-14
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Publication No.: CN107703437APublication Date: 2018-02-16
- Inventor: 韦学勇 , 王曙东 , 蒋庄德 , 赵玉龙
- Applicant: 西安交通大学
- Applicant Address: 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- Assignee: 西安交通大学
- Current Assignee: 西安交通大学
- Current Assignee Address: 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- Agency: 西安智大知识产权代理事务所
- Agent 贺建斌
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28

Abstract:
一种基于半频静电激振的高频体模态谐振器测试方法,包括开环测试方法和闭环测试方法,开环测试方法适用于实验室环境中高频体模态谐振器的标定测试;闭环测试方法适用于工业现场中高频体模态谐振器的实际应用;本发明利用半频波静电激振谐振器的原理,将馈穿电流降为二分频,而由谐振器振动产生的动态电流仍为原先频率,二者被分隔在不同的频段,通过外部电路可以将馈穿电流带来的噪声去除,大大提高了谐振器测试的信噪比,进而提高了硅微振荡器的性能参数。
Public/Granted literature
- CN107703437B 一种基于半频静电激振的高频体模态谐振器测试方法 Public/Granted day:2019-08-13
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