Invention Grant
CN107710018B 放射线检测元件的灵敏度校正方法以及放射线断层摄影装置
失效 - 权利终止
- Patent Title: 放射线检测元件的灵敏度校正方法以及放射线断层摄影装置
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Application No.: CN201680035775.XApplication Date: 2016-04-05
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Publication No.: CN107710018BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 桥爪宣弥 , 北村圭司 , 小林哲哉
- Applicant: 株式会社岛津制作所
- Applicant Address: 日本京都府
- Assignee: 株式会社岛津制作所
- Current Assignee: 株式会社岛津制作所
- Current Assignee Address: 日本京都府
- Agency: 北京林达刘知识产权代理事务所
- Agent 刘新宇
- Priority: 2015-122651 2015.06.18 JP
- International Application: PCT/JP2016/061172 2016.04.05
- International Announcement: WO2016/203822 JA 2016.12.22
- Date entered country: 2017-12-18
- Main IPC: G01T1/161
- IPC: G01T1/161 ; G01T1/17

Abstract:
利用在第一灵敏度系数计算工序(步骤S1)和第三灵敏度系数计算工序(步骤S3)中求出的灵敏度系数来进行γ射线检测器的灵敏度校正,由此基于灵敏度校正后的数据来获得重构图像,其中,在该第一灵敏度系数计算工序中,基于通过对来自旋转的校正用棒状射线源的γ射线进行检测而收集到的同时计数数据来按灵敏度因素分开地求出灵敏度系数,在该第三灵敏度系数计算工序中,基于在多个γ射线检测器的配置发生了变化的状态下收集到的同时计数数据来求出源自几何学配置的灵敏度系数。其结果,即使在构成检测器的多个γ射线检测器的配置可变且不是圆形配置的情况下,也能够获得无伪像的重构图像。
Public/Granted literature
- CN107710018A 放射线检测元件的灵敏度校正方法以及放射线断层摄影装置 Public/Granted day:2018-02-16
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