Invention Grant
- Patent Title: 基于最优采样间距条件下的粗糙度系数分形评价模型构建方法
-
Application No.: CN201710823597.3Application Date: 2017-09-13
-
Publication No.: CN107843215BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 马成荣 , 黄曼 , 杜时贵 , 夏才初 , 罗战友 , 马文会 , 徐常森 , 许强
- Applicant: 绍兴文理学院
- Applicant Address: 浙江省绍兴市越城区环城西路508号
- Assignee: 绍兴文理学院
- Current Assignee: 绍兴文理学院
- Current Assignee Address: 浙江省绍兴市越城区环城西路508号
- Agency: 杭州斯可睿专利事务所有限公司
- Agent 王利强
- Main IPC: G01B11/30
- IPC: G01B11/30

Abstract:
一种基于最优采样间距条件下的粗糙度系数分形评价模型构建方法,包括如下步骤:1)选取Barton的m条标准轮廓线的高像素图片,提取图片中m条标准剖面线的数据信息,获得m条标准剖面线的轮廓并进行后期处理;2)根据码尺法在matlab中编写程序,将(1)中得到的结构面轮廓线信息导入,设置不同的采样间距r,得到m条标准剖面线对应的N(r)值,计算出分形维数D;3)对91个采样间距区间下分形维数D值的离散程度进行分析;4)探索不同采样间距间隔下分形维数D值的变化规律,得出最优采样间距r,构建最优采样间距下结构面粗糙度系数的函数模型。本发明根据最优采样间距能够更为准确地估测结构面粗糙度系数JRC。
Public/Granted literature
- CN107843215A 基于最优采样间距条件下的粗糙度系数分形评价模型构建方法 Public/Granted day:2018-03-27
Information query