Invention Publication
- Patent Title: 一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法
- Patent Title (English): Direction finding accuracy analysis method applicable to arbitrary plane array
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Application No.: CN201711107929.4Application Date: 2017-11-10
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Publication No.: CN107870290APublication Date: 2018-04-03
- Inventor: 刘青 , 邓军波 , 朱明晓 , 王彦博 , 张冠军 , 郭安祥 , 刘孝为
- Applicant: 西安交通大学 , 国家电网公司 , 国网陕西省电力公司电力科学研究院
- Applicant Address: 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- Assignee: 西安交通大学,国家电网公司,国网陕西省电力公司电力科学研究院
- Current Assignee: 西安交通大学,国家电网有限公司 国网陕西省电力有限公司电力科学研究院
- Current Assignee Address: 710048 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- Agency: 西安通大专利代理有限责任公司
- Agent 闵岳峰
- Main IPC: G01R31/12
- IPC: G01R31/12 ; G01S3/00

Abstract:
本发明公开了一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法,包括:对任意平面阵列建立坐标系,令阵列的几何中心位于坐标原点处;用克拉美罗下界评估阵列的测向精度,需首先根据各天线的坐标计算三个重要参数:幅值、直流偏移和初相;列出克拉美罗下界关于真实方位角、真实俯仰角的函数表达式,据此绘制克拉美罗下界关于真实方位角和真实俯仰角的关系曲线,若在某个真实方位角、真实俯仰角的范围内克拉美罗下界相对较小,则该处测向精度相对较高。本发明提出了一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法,对变电站内任意应用条件均适用,对优化布置天线阵列具有指导作用。通过该方法优化的天线阵列,具有较高的测向性能,以及较小的阵列尺寸。
Public/Granted literature
- CN107870290B 一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法 Public/Granted day:2019-10-11
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