Invention Grant
- Patent Title: 自动测量黑度范围的光学密度计及光学密度计算方法
-
Application No.: CN201711196993.4Application Date: 2017-11-25
-
Publication No.: CN107907510BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 林如意 , 吴红伟 , 娄旭耀 , 郭浩男 , 林茁 , 赵丽 , 李丽 , 董庆锋 , 郭云龙 , 段柯
- Applicant: 安阳中科工程检测有限公司
- Applicant Address: 河南省安阳市北关区东风路80号
- Assignee: 安阳中科工程检测有限公司
- Current Assignee: 安阳中科工程检测有限公司
- Current Assignee Address: 河南省安阳市北关区东风路80号
- Agency: 郑州大通专利商标代理有限公司
- Agent 石丹丹
- Main IPC: G01N21/59
- IPC: G01N21/59 ; G05B19/042

Abstract:
本发明属于无损检测射线检测技术领域,特别是涉及一种自动测量黑度范围的光学密度计,包括光源控制系统、光源接收装置、履带传送机和中控系统;所述光源控制系统与光源接收装置相对设置,在光源控制系统与光源接收装置之间放置有多张底片,底片安放在履带传动机的传送带上,所述中控系统分别与光源控制系统、光源接收装置和履带传送机电连接。本发明还提供一种光学密度计算方法。本发明解决了目前传统黑度计效率低、劳动强度大、测量误差大、不规范等问题,引入线性传感阵列的概念,该概念摒弃掉传统的单颗点式传感器,大幅度提升整张底片的自动测量效率。
Public/Granted literature
- CN107907510A 自动测量黑度范围的光学密度计及光学密度计算方法 Public/Granted day:2018-04-13
Information query