Invention Publication
- Patent Title: 一种自恢复抗单粒子软错误累积的三模冗余结构
- Patent Title (English): Self-restoring three-mode redundancy structure for defending single-particle soft error accumulation
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Application No.: CN201711341286.XApplication Date: 2017-12-14
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Publication No.: CN108055031APublication Date: 2018-05-18
- Inventor: 刘家齐 , 赵元富 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 孙永姝 , 王丹 , 李东强
- Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- Applicant Address: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- Assignee: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- Current Assignee: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- Current Assignee Address: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 范晓毅
- Main IPC: H03K19/003
- IPC: H03K19/003

Abstract:
本发明公开了一种自恢复抗单粒子软错误累积的三模冗余结构,通过增加单粒子软错误检测电路和数据选择电路对电路进行优化设计,基于这种结构的设计能够在三模冗余结构中单路信号翻转后自行恢复,能够有效解决三模冗余结构可能由错误累积导致单粒子加固失效的问题。
Public/Granted literature
- CN108055031B 一种自恢复抗单粒子软错误累积的三模冗余结构 Public/Granted day:2021-04-13
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