Invention Grant
- Patent Title: 一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法及装置
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Application No.: CN201711195201.1Application Date: 2017-11-24
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Publication No.: CN108107867BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 郭阳 , 邓丁 , 屈婉霞 , 宋结兵 , 胡春媚 , 李振涛 , 扈啸
- Applicant: 中国人民解放军国防科技大学
- Applicant Address: 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
- Assignee: 中国人民解放军国防科技大学
- Current Assignee: 中国人民解放军国防科技大学
- Current Assignee Address: 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
- Agency: 湖南兆弘专利事务所
- Agent 周长清
- Main IPC: G05B23/02
- IPC: G05B23/02

Abstract:
本发明公开了一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法及装置,该方法的步骤为:S1.追踪存储器指定端口的外围的系统逻辑,并记录相应电路的拓扑关系;S2.分析步骤S1记录下的拓扑关系中哪些端口具有复用性以及其复用实现方式;S3.根据步骤S2所得的端口复用性,设计符合相应时序的存储器自测试控制器并对系统电路做出修改和调整。该装置用来实施上述方法。本发明具有实现方法简单、面积小、功耗低等优点。
Public/Granted literature
- CN108107867A 一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法及装置 Public/Granted day:2018-06-01
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