一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法及装置
Abstract:
本发明公开了一种复用系统逻辑的存储器自测试控制器实现方法及装置,该方法的步骤为:S1.追踪存储器指定端口的外围的系统逻辑,并记录相应电路的拓扑关系;S2.分析步骤S1记录下的拓扑关系中哪些端口具有复用性以及其复用实现方式;S3.根据步骤S2所得的端口复用性,设计符合相应时序的存储器自测试控制器并对系统电路做出修改和调整。该装置用来实施上述方法。本发明具有实现方法简单、面积小、功耗低等优点。
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