Invention Grant
- Patent Title: 具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法
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Application No.: CN201711292776.5Application Date: 2017-12-08
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Publication No.: CN108169257BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 朱佩平 , 何其利 , 廖可梁 , 袁清习 , 张凯 , 黄万霞 , 朱中柱 , 王研
- Applicant: 中国科学院高能物理研究所
- Applicant Address: 北京市石景山区玉泉路19号乙
- Assignee: 中国科学院高能物理研究所
- Current Assignee: 济南汉江光电科技有限公司
- Current Assignee Address: 250013 山东省济南市历下区泺源大街中银广场二期25F03B
- Agency: 北京志霖恒远知识产权代理事务所
- Agent 郭栋梁
- Main IPC: G01N23/046
- IPC: G01N23/046

Abstract:
本发明公开了一种具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法,包括以下步骤:首先根据角度信号响应成像机制,在X射线微分相位衬度显微镜像面拍摄样品各转角的谷位放大像、上坡放大像、峰位放大像、下坡放大像,其次根据三种定量成像机制,在X射线微分相位衬度显微镜物面上重建样品各转角的二维吸收衬度像、二维折射衬度像和二维散射衬度像,然后根据逆Radon变换,重建样品的线性吸收系数三维像、线性散射系数三维像、折射率实部衰减率三维像和折射率实部衰减率导数三维像。通过上述方法可以对直径5μm以上的完整细胞进行三维成像,分辨率达到纳米量级。
Public/Granted literature
- CN108169257A 具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法 Public/Granted day:2018-06-15
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