Invention Grant
- Patent Title: 一种基于流程控制的综合校准单元
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Application No.: CN201711277487.8Application Date: 2017-12-06
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Publication No.: CN108170412BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 张修建 , 高翌春 , 王兵 , 张鹏程 , 刘晓旭 , 靳硕 , 印朝辉 , 张铁犁
- Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
- Applicant Address: 北京市丰台区南大红门路一号;
- Assignee: 北京航天计量测试技术研究所,中国运载火箭技术研究院
- Current Assignee: 北京航天计量测试技术研究所,中国运载火箭技术研究院
- Current Assignee Address: 北京市丰台区南大红门路一号;
- Agency: 核工业专利中心
- Agent 吕岩甲
- Main IPC: G06F8/20
- IPC: G06F8/20 ; G06F8/41

Abstract:
本发明属于计量流程控制技术领域,具体涉及一种基于流程控制的综合校准单元,用于实现对测试设备计量检定过程的综合管理。包括驱动调用模块、流程控制模块和数据处理模块;驱动调用模块包括设备驱动库和功能接口程序;流程控制模块包括流程执行引擎、设备校准控制和可复用资源库;数据处理模块包括计量校准信息库、校准数据处理和数据通信接口。本发明将驱动调用、流程控制及数据处理计算三方面分别细化,建立一种基于流程控制的综合校准单元,实现与底层驱动的无关性和自动化计量。
Public/Granted literature
- CN108170412A 一种基于流程控制的综合校准单元 Public/Granted day:2018-06-15
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