Invention Grant
- Patent Title: 一种基于核共振荧光的脉冲γ射线能谱测量系统及方法
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Application No.: CN201810049783.0Application Date: 2018-01-18
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Publication No.: CN108267775BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 魏坤 , 翁秀峰 , 黑东炜 , 盛亮 , 李斌康 , 谭新建 , 付竹明 , 孙彬
- Applicant: 西北核技术研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市灞桥区平峪路28号
- Assignee: 西北核技术研究所
- Current Assignee: 西北核技术研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市灞桥区平峪路28号
- Agency: 西安智邦专利商标代理有限公司
- Agent 唐沛
- Main IPC: G01T1/36
- IPC: G01T1/36

Abstract:
本发明涉及一种基于核共振荧光的脉冲γ射线能谱测量系统及方法。该装置包括铅准直器、HPGe探测器以及特定靶片;所述铅准直器、特定靶片依次设置在待测脉冲γ射线的束流方向上;所述HPGe探测器位于待测脉冲γ射线的一侧且HPGe探测器与束流方向之间的夹角为90°‑120°;特定靶片包括多种靶材料叠加而成,且每一种靶材料的能级均位于待测脉冲γ射线的能量范围内。该方法包括:1)利用HPGe探测器探测待测脉冲γ射线核共振荧光过程中出射的光子数R;2)计算光子数密度;3)将光子数密度通过高斯拟合得到待测脉冲γ射线的能谱分布图。本发明的应用不仅使得脉冲γ射线能谱测量实验设置简单,后期计算简单并且测量精度高。
Public/Granted literature
- CN108267775A 一种基于核共振荧光的脉冲γ射线能谱测量系统及方法 Public/Granted day:2018-07-10
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