Invention Grant
CN108490509B 低深宽比的电介质几何相位超表面材料及其结构优化方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 低深宽比的电介质几何相位超表面材料及其结构优化方法
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Application No.: CN201810307417.0Application Date: 2018-04-08
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Publication No.: CN108490509BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 郑国兴 , 邓娟 , 陶金 , 武霖 , 刘子晨 , 邓联贵 , 戴琦 , 付娆 , 李子乐 , 刘勇 , 毛庆洲 , 李松
- Applicant: 武汉大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- Assignee: 武汉大学
- Current Assignee: 武汉大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- Agency: 武汉科皓知识产权代理事务所
- Agent 张火春
- Main IPC: G02B1/00
- IPC: G02B1/00 ; G02F1/01

Abstract:
本发明公开的低深宽比的电介质几何相位超表面结构材料及其结构优化方法,所述的电介质几何相位超表面结构材料包括基底、基底上的反射层、反射层上的多光束干涉层、以及若干尺寸一致的电介质纳米砖呈周期性排布于多光束干涉层上所构成的电介质纳米砖阵列;所述的电介质纳米砖阵列用来接收垂直入射的圆偏振光,并通过调节各电介质纳米砖的方向来调节出射光的位相。本发明电介质几何相位超表面结构材料的深宽比降至传统的透射式超表面材料的一半,约1.7,从而可减轻对加工工艺的要求,使器件的成品率和量产得到保障。
Public/Granted literature
- CN108490509A 低深宽比的电介质几何相位超表面材料及其结构优化方法 Public/Granted day:2018-09-04
Information query
IPC分类:
G | 物理 |
G02 | 光学 |
G02B | 光学元件、系统或仪器 |
G02B1/00 | 按制造材料区分的光学元件;用于光学元件的光学涂层 |