Invention Publication
- Patent Title: 光学模组及其测试方法以及点阵投影器
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Application No.: CN201810547973.5Application Date: 2018-05-31
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Publication No.: CN108553109APublication Date: 2018-09-21
- Inventor: 魏福呈 , 廖致霖
- Applicant: 业成科技(成都)有限公司 , 业成光电(深圳)有限公司 , 英特盛科技股份有限公司
- Applicant Address: 四川省成都市高新区西区合作路689号
- Assignee: 业成科技(成都)有限公司,业成光电(深圳)有限公司,英特盛科技股份有限公司
- Current Assignee: 业成科技(成都)有限公司,业成光电(深圳)有限公司,英特盛科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 四川省成都市高新区西区合作路689号
- Agency: 成都希盛知识产权代理有限公司
- Agent 杨冬梅; 张行知
- Main IPC: A61B5/1171
- IPC: A61B5/1171

Abstract:
本发明涉及一种光学模组及其测试方法以及点阵投影器。该光学模组,包括:光源组件;集光组件,设于光源组件上,并形成位于集光组件与光源组件之间的第一间隙;绕射式光学组件,设于集光组件的表面上,并形成位于绕射式光学组件与集光组件之间的第二间隙,第二、第一间隙正对设置;第一导电层,设于光源组件上;第二导电层,设于集光组件上,且与第一导电层正对设置;第三导电层,设于绕射式光学组件上,且与第二导电层正对设置;相邻两导电层用于连接至电容侦测电路。从而可以通过检测第二、第一导电层之间的第一电容以及第二、第三导电层之间的第二电容,通过比对监测电容和预设电容,即可获得光学模组的性能。
Public/Granted literature
- CN108553109B 光学模组及其测试方法以及点阵投影器 Public/Granted day:2021-04-13
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