Invention Grant
CN108594017B 一种邦定阻抗检测系统及方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种邦定阻抗检测系统及方法
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Application No.: CN201810707417.XApplication Date: 2018-07-02
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Publication No.: CN108594017BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 张斌 , 陈鹏名 , 许文鹏
- Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
- Applicant Address: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- Assignee: 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
- Current Assignee: 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区酒仙桥路10号;
- Agency: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- Agent 汪源; 陈源
- Main IPC: G01R27/02
- IPC: G01R27/02

Abstract:
本发明公开了一种邦定阻抗检测系统及方法,该邦定阻抗检测系统包括邦定阻抗检测模块、显示面板、覆晶薄膜和电路板,所述覆晶薄膜和所述电路板通过多个邦定焊盘组连接,所述覆晶薄膜和所述显示面板通过多个邦定焊盘组连接,邦定焊盘组包括两个相连的邦定焊盘,部分所述邦定焊盘组与连接的第一等效电阻形成检测结构,所述检测结构连接至所述邦定阻抗检测模块,所述邦定阻抗检测模块用于根据所述检测结构检测出所述邦定焊盘组的邦定阻抗和所述邦定焊盘组的邦定阻抗的均一性。本发明能够检测显示屏的邦定阻抗及邦定阻抗的均一性,有效减少邦定阻抗异常对显示屏的显示效果的影响。
Public/Granted literature
- CN108594017A 一种邦定阻抗检测系统及方法 Public/Granted day:2018-09-28
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