本申请涉及一种电路板检测方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取N个初始区域；所述N个初始区域覆盖了电路板的全部元件特征；根据所述N个初始区域及其覆盖的元件特征，确定M个目标区域；所述M个目标区域覆盖了所述N个初始区域覆盖的全部元件特征；其中，N＞M＞0；获取所述电路板的M个区域图像；所述M个区域图像与所述M个目标区域一一对应；检测所述M个区域图像中的元件特征。通过本发明的电路板检测方法，提升了电路板检测的效率。