Invention Grant
- Patent Title: 一种光模块接收端性能测试装置
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Application No.: CN201811149969.XApplication Date: 2018-09-29
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Publication No.: CN108833008BPublication Date: 2021-04-13
- Inventor: 刘依
- Applicant: 武汉亿德光兴科技有限公司
- Applicant Address: 湖北省武汉市武昌区徐东二路2号东创创意园3号孵化楼202室
- Assignee: 武汉亿德光兴科技有限公司
- Current Assignee: 武汉亿德光兴科技有限公司
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市武昌区徐东二路2号东创创意园3号孵化楼202室
- Agency: 上海精晟知识产权代理有限公司
- Agent 冯子玲
- Main IPC: H04B10/079
- IPC: H04B10/079

Abstract:
本发明涉及通讯测试技术领域,尤其是一种光模块接收端性能测试装置,包括误码率测试仪,误码率测试仪包括信号发送模块、微型芯片、电信号分析模块和电信号接收模块,信号发送模块通过光缆连接有光衰减器,光衰减器电性连接有计算机,光衰减器通过光缆连接有分光计,分光计通过光缆分别连接有光模块和光功率计,光模块内设有接收器和光信号输出模块,光信号输出模块通过光缆连接有示波器,示波器包括光信号接收模块、转换器、处理器、电信号发送模块、信号显示模块和显示器。本发明的好处是能够检测出测试过程中的光信号的损耗和误差,从而准确的判断光模块的信号接收能力。
Public/Granted literature
- CN108833008A 一种光模块接收端性能测试装置 Public/Granted day:2018-11-16
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