Invention Grant
CN108845356B 绕射波成像方法、装置和电子设备
失效 - 权利终止
- Patent Title: 绕射波成像方法、装置和电子设备
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Application No.: CN201811128876.9Application Date: 2018-09-26
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Publication No.: CN108845356BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 李闯建 , 彭苏萍 , 赵惊涛 , 崔晓芹
- Applicant: 中国矿业大学(北京)
- Applicant Address: 北京市海淀区学院路丁11号
- Assignee: 中国矿业大学(北京)
- Current Assignee: 中国矿业大学(北京)
- Current Assignee Address: 北京市海淀区学院路丁11号
- Agency: 北京超凡志成知识产权代理事务所
- Agent 梁香美
- Main IPC: G01V1/28
- IPC: G01V1/28

Abstract:
本发明提供了一种绕射波成像方法、装置和电子设备,其中,该方法包括:获取角度域下的共成像道集;共成像道集包括多个成像道集;每个成像道集对应一个成像点;每个成像道集包括多个采样点;每个采样点包括时间参数;对每个成像道集进行下述处理:按照时间参数对采样点进行划分得到多个时间切片,计算每个时间切片的每一采样点的衰减因子与衰减系数,对每个时间切片的若干采样点及若干采样点对应的衰减系数进行叠加计算,得到每个时间切片的成像结果,将其进行集合,得到每个成像点的成像结果,将每个成像点的成像结果进行集合,得到共成像道集的成像结果。本发明有效地压制了反射波和噪声,增强了绕射波,提高了绕射波成像结果的分辨率。
Public/Granted literature
- CN108845356A 绕射波成像方法、装置和电子设备 Public/Granted day:2018-11-20
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