Invention Grant
- Patent Title: 一种用于校准的5G阵列天线非线性点测量方法
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Application No.: CN201810733934.4Application Date: 2018-07-06
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Publication No.: CN108896833BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 隆锐 , 欧阳骏 , 张舒楠
- Applicant: 电子科技大学
- Applicant Address: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- Assignee: 电子科技大学
- Current Assignee: 电子科技大学
- Current Assignee Address: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- Agency: 成都巾帼知识产权代理有限公司
- Agent 邢伟
- Main IPC: G01R29/10
- IPC: G01R29/10

Abstract:
本发明公开了一种用于校准的5G阵列天线非线性点测量方法,包括以下步骤:S1.建立测量模型;S2.调整天线阵列的初始相位,并使阵列总场强度大于每个天线单元场强度的两倍;S3.激励阵列天线的所有天线单元,测量得到阵列信号功率;S4.对于各个天线端口,依次激励其对应的天线单元,测量各天线端口到测量端口的传输系数矩阵作为先验信息;S5.依次测试各个天线单元在90度、180度相移情况下的阵列信号功率,并据此求解各个天线的归一化幅度和相位,得到中间向量的归一化表示;S6.根据测量模型,计算天线真实激励向量的归一化数据作为测量结果。本发明能够精确测量阵列天线各个天线单元的端口真实激励,为5G阵列天线的校准提供准确的依据。
Public/Granted literature
- CN108896833A 一种用于校准的5G阵列天线非线性点测量方法 Public/Granted day:2018-11-27
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