Invention Publication
- Patent Title: 一种自适应采样的复杂曲面接触式测量方法
- Patent Title (English): Self-adaptive sampling complex curved surface contact measurement method
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Application No.: CN201810639562.9Application Date: 2018-06-20
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Publication No.: CN109084722APublication Date: 2018-12-25
- Inventor: 赵欢 , 李昊 , 丁汉
- Applicant: 华中科技大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Agency: 华中科技大学专利中心
- Agent 梁鹏; 曹葆青
- Main IPC: G01B21/20
- IPC: G01B21/20

Abstract:
本发明属于复杂曲面接触式测量的领域,并公开了一种自适应采样的复杂曲面接触式测量方法。该方法包括:(a)设定测针与待测工件表面接触的期望接触力和扫描速度,开始扫描并获得多个采样点;(b)分别测量每个采样点沿测针方向和垂直于测针方向实际接触力的大小,计算二者的合力大小和方向,以及合力方向与测针方向的夹角;(c)计算相邻采样点之间夹角的差值,判断差值是否满足预设角度变化阈值,满足的采样点为测量点;(d)保存每个测量点扫描获得的坐标,补偿测针球头的半径后获得实际接触点的坐标,所有测量点的实际接触点的坐标集合即为所需的测量结果。通过本发明,避免工件表面划伤,增加曲率大处的测量点,提高测量精度和效率。
Public/Granted literature
- CN109084722B 一种自适应采样的复杂曲面接触式测量方法 Public/Granted day:2019-08-13
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